晶体结构中的缺陷在温度为()时才能生成。
- A0K
- B>298K
- C>0K
- D>0℃
在书写晶体结构缺陷符号时,上标为•表示带()个电荷。A+2B+3C-1D+1
2、对某晶体的缺陷测定生成能为84KJ/mol,计算该晶体在1000K和1500
对某晶体的缺陷测定生成能为84KJ/mol,计算该晶体在1000K和1500K时的缺陷浓度。
3、离子晶体生成Schttky缺陷时,正离子空位和负离子空位是同时成对产生的,同
离子晶体生成Schttky缺陷时,正离子空位和负离子空位是同时成对产生的,同时伴随()的增加。
4、(a)在MgO晶体中,肖特基缺陷的生成能为6ev,计算在25℃和1600℃时
(a)在MgO晶体中,肖特基缺陷的生成能为6ev,计算在25℃和1600℃时热缺陷的浓度。(b)如果MgO晶体中,含有百万分之一mol的Al2O3杂质,则在1600℃时,MgO晶体中是热缺陷占优势...
5、在同样的过饱和度下,较高温度时晶体成长的速率与晶核生成速率相比要()。
在同样的过饱和度下,较高温度时晶体成长的速率与晶核生成速率相比要()。AA、慢BB、快CC、相等DD、无法比较
钻石中的矿物晶体大多数是在钻石生成的()包裹在其中的。A早期B晚期C成岩期D次生期