使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。

1、钢轨焊缝用的扫查装置，当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时，扫查间隔

钢轨焊缝用的扫查装置，当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时，扫查间隔应不大于（）。A15mmB20mmC25mmD30mm

2、探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。

探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。A正确B错误

3、画出焊缝轨底部位K型扫查探伤灵敏度校准图。

画出焊缝轨底部位K型扫查探伤灵敏度校准图。

4、探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围

探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。AA、增加BB、减小CC、不变

5、使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。

使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。AA、探伤灵敏度BB、扫查密度CC、定位精度DD、定量精度

6、探头晶片尺寸增加，对探伤有哪些不利因素？

探头晶片尺寸增加，对探伤有哪些不利因素？