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问题

用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。

用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。

A无缺陷
B有规则的缺陷
C有小缺陷
D以上均不是

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