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待试设备绕组幅频响应特性曲线中（）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据。

待试设备绕组幅频响应特性曲线中（）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据。

A波峰位置
B波峰数量
C波谷位置

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