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LKJ关键存储芯片EPROM类型的抽样检测试验时,反复擦除、写入次数不应低于


LKJ关键存储芯片EPROM类型的抽样检测试验时,反复擦除、写入次数不应低于()次,对于RAM、Flash、DOC等可改写芯片,反复擦除、写入次数不应低于()次,按键面膜按键次数应不低于()次.()

  • AA、100,10000,50000
  • BB、50,100000,200000
  • CC、20,200000,100000
  • DD、10,100000,100000
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